手持式电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率,测量扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。换上特制的四探针测试夹具,还可以对金属导体的低、... ...
RTM660C采用高的厚度及电阻率探头,配以强大的软件控制,可以用多种方式进行无接触式测量,使得测试过程变得十分高效。系统采用一体化设计,结构紧凑,安装方便。使用者在操作平台上转动硅片,测试数据可即时... ...
硅片电阻测试仪是用来测量硅片、硅单晶、锗单晶电阻率的测量仪器。它由电气测量部份(简称:主机)、测试架、四探针头及测量软件组成。 ...
薄膜方块电阻测试仪主要用来测量硅外延层、扩散层和离子注入层、导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜的方块电阻。它由电气测量部份(简称:主机)、测试架、四探针头及测量软件组成。 ...
实现对太阳能硅块快速、无接触的缺陷检测。检测的缺陷类型包括: 裂纹和空洞、SiC杂质、 微晶聚集结构、金属沉淀。 ...
此款硅料碳氧含量测试仪是我公司新从国外引进的设备。它结合了当今新的光学、电子学、材料科学和人工智能技术,所有的细节无不体现设计的宗旨:操作简便,性能卓越、功能强大、制样简便、智能操作、维护成本... ...
硅片表面线痕测试仪 产品型号:进口 对硅片表面的线痕进行轻松测量。该设备带专用控制器的高,高性能,操作简单,显示一目了然。 ...
该仪器专门为硅料分选而设计,可以快速准确的测量PN型、重掺、电阻率。对碎片料、米粒料、片料,块料,头尾料、埚底料、边皮料均可测量。系统同时配备三探针探头、四探针探头和重掺镊,方便您的不同测量需求。 ...
硅芯电阻率测试仪是按照我国国家标准GB/T1551-1995及美国材料与试验协会(ASTM)推荐的材料验收检测方法设计。它适合于测量横截面面积均匀的圆型,方型或矩形单晶锭的电阻率,在硅芯、检验棒电阻率测量上测量... ...
单晶型号测试仪是快速鉴别硅晶材料的导电类型“P”和“N”的测量仪器,测量范围宽,硅材料电阻率从0.01~199.9Ω*cm。 ...
焊条粘合力测量仪(拉力测量仪) 本仪器专门用于电池片焊条焊接牢固度的拉力测量。系统机架完全采用金属结构设计,以保证系统的牢固性,提供精准测量的必要基础条件。电池片夹板、焊条夹头、手动螺旋控制装置... ...
四探针电阻率测试仪探笔 技术参数 ■ 钨钢探针 ; ■ 间距1±0.01mm ; ■ 针尖绝缘电阻≥100mΩ ; ■ 机械游移率≦1.0% ; ■ 探针压力 12-16牛顿(总力)。 ...
测试仪探针 技术参数 ■ 规格:0.5*16.5mm; ■ 材料:钨钢 / 高速钢; ■ 钨刚耐磨性好; ■ 高速钢韧性好,更不易折断。 ...